造成濾光��中心波長(zhǎng)漂移的主要原因包括：

       1、膜層的聚集密度��

       2、膜層的折射率和兒何厚度隨使用環(huán)境的變化而發(fā)生的變化。就膜層聚集密度而言，常��(guī)工藝下制備的薄膜聚集密度通常都小��1。因��，隨吸潮情況不同，膜層的光學(xué)厚度變化可達(dá)l%~ 5%l，這意味著��(duì)于中心波��(zhǎng)��777. 4 nm的閃電探��(cè)儀用超窄帶濾光��，吸潮后的中心波��(zhǎng)將向��(zhǎng)波方向漂��7 7 - 37. 5 nm。這種漂移不僅隨環(huán)境濕度變化而變��，而且��(dāng)濾光片由高聚集密度的致密膜和低聚集密度的疏松膜組成時(shí)，由于致密膜的阻擋作��，波��(zhǎng)漂移的時(shí)間可持續(xù)兒天甚至兒��(gè)��，所以給濾光片的��(shí)際應(yīng)用帶��(lái)困難。在早期，膜層內(nèi)部的低聚集密度造成的疏松結(jié)��(gòu)是引起光譜漂移的主要原因。現(xiàn)��，采用離子束輔助(IBAD)、反��(yīng)離子��(RIP)以及離子束濺��(IBS)等沉積技��(shù)已可使膜層的聚集密度��(dá)到等于甚至大于一。在這種情況��，膜層中被認(rèn)為已不存在吸潮空��，由吸潮引起的光��(xué)厚度變化或波��(zhǎng)漂移可忽略不��(jì)，于是膜層材料的熱膨脹和折射率等隨溫度變化引起的中心波長(zhǎng)漂移便成為主要因��。由于它是由溫度變化引起��，因此一般稱(chēng)為溫度穩(wěn)定性�� 

       日本科學(xué)家高��?qū)V光片的溫度穩(wěn)定性作了極為深入的研究。他指出，濾光片的溫度穩(wěn)定性不僅與膜層有關(guān)，而且與基底材料相��(guān)，即溫度��(wěn)定性是由基底和薄膜兩者相互作用的綜合��(jié)果決定的。隨著濾光片溫度的變��，不可避免地��(huì)��(chǎn)生膜層兒何厚度（由熱膨脹系數(shù)決定）和膜層折射率（由膜層折射率溫度系數(shù)決定1的變��。但是這種變化可以通過(guò)選擇基底的熱膨脹系數(shù)，即��(diào)節(jié)基底熱應(yīng)力對(duì)膜層造成的彈性形變來(lái)��(jìn)行補(bǔ)��。他��(duì)熱膨脹系��(shù)��0��142×l0.7/����8種基底材料��(jìn)行了試驗(yàn)，得到的��(jié)果是，濾光片中心波長(zhǎng)漂移��0 018 nm門(mén)C變化��0 005 nm門(mén)C。因��，對(duì)于特定的膜系，從理論上總可找到零漂移��(shí)基底所��(duì)��(yīng)的熱膨脹系數(shù)�� 

       高橋模型的基本出��(fā)��(diǎn)��，當(dāng)濾光片的��(huán)境溫度發(fā)生變化時(shí)，一方面，膜層本身因熱膨脹使得體積增��，造成膜層的平均聚集密度降��，導(dǎo)致膜層厚度和折射率變��；另方��，基底和膜系的熱��(yīng)力造成膜層的彈性形��，也��(huì)��(chǎn)生膜層的體積變化，引起膜層厚度和折射率變��。��2��(gè)��(guò)程若能有效地��(bǔ)��，則可以��(shí)��(xiàn)濾光片中心波��(zhǎng)零漂����